21 | 05 | 2019 

Siemens D500 работает в режиме фокусировки по Брэггу – Брентано и предназначен для исследования поликристаллических, аморфных и монокристаллических материалов. Дифрактометр снабжен первичным асимметричным фокусирующим монохроматором по Иоганнсону для выделения Kα1 линии излучения Cu – анода, что существенно улучшает спектральное разрешение прибора на дальних дифракционных углах. Используемый кристалл-монохроматор SiO2 (101) позволяет выделить спектральную линию CuKα1 с чистотой 98%, дальнейшая монохроматизация осуществляется пространственным выделением части диспергированного пучка. Для регистрации дифракционного спектра используется позиционно-чувствительный детектор (ПЧД) BRAUN с линейным разрешением 0.07 мм (соответствует угловому разрешению 0.02°). Стандартная схема съемок – Θ-2Θ сканирование, при котором неоднородности детектора нивелируются. Использование ПЧД увеличивает эффективность регистрации спектра, позволяя проводить съемки малых количеств образца, на стандартных образцах время съемки может быть уменьшена в 10 – 100 раз. Съемный стандартный держатель образца может быть заменен на другой держатель, позволяющий устанавливать нестандартные образцы, в том числе различные изделия и конструкционные детали.

Рентгеновский дифрактометр Siemens-D500-BRAUN позволяет характеризовать материалы методом полнопрофильного анализа порошковых дифракционных спектров (расширенный метод Ритвельда). Отличительны особенности: высокое спектральное разрешение и короткие времена съемки. Приемлемое количество образца от 10-6 кг. Для материалов из легких элементов и образцов небольшого количества используется специальные монокристальные подложки с низким уровнем фона. Максимальный вес изделий – до 20 кг.