19.11.2017 
  


В связи с обновлением программного обеспечения сайт находится на реконструкции (некоторые страницы и сервисы могут быть недоступны)

Основы рентгеноструктурного анализа

Автор программы: к. ф.-м. н., Симонов С.В.

Цель дисциплины: дать студенту систематическое изложение основных этапов рентгеноструктурного анализа, показать практическое приложение методов рентгеноструктурного анализа (РСА) в области физики твердого тела и материаловедении.
Задачи: развитие у студентов навыков физического мышления, умения ставить и решать задачи в области кристаллографии и рентгендифракционного эксперимента, свободно владеть основными определениями и терминологией в рамках данного курса.

Краткое содержание дисциплины:

1

Элементы кристаллографии. Элементарная ячейка. Элементы симметрии и их сочетания. Кристаллографические точечные группы и сингонии. Стереографическая проекция.

2

Трансляционные элементы симметрии. Решетки Браве. Матричное представление элементов симметрии. Символика пространственных групп.

3

Орбиты точек. Общие и частные положений в кристаллической структуре. Полное описание известной структуры кристалла. Плотнейшие шаровые упаковки. Дефекты упаковки. Кристаллические многогранники. Простые формы фигур.

4

Получение рентгеновских лучей и их взаимодействие с веществом. Спектр в рентгеновском диапазоне. Поглощение и рассеяние рентгеновских лучей в веществе. Детекторы рентгеновского излучения.

5

Рассеяние свободным электроном. Формула Томсона. Атомная амплитуда рассеяния. Температурный фактор.

6

Интенсивность рентгеновских рефлексов. Рассеяние одной элементарной ячейкой. Структурная амплитуда. Погасания.

7

Основные дифракционные схемы в представлении обратной решетки: метод Лауэ, метод порошка, метод вращения (качания), дифрактометрия поликристаллического объекта и монокристалла.

8

Определение неизвестной структуры. Экспериментальные и расчетные методы определения координат атомов в ячейке. Метод проб и ошибок. Синтез Паттерсона. Синтез Фурье. Прямой метод.

9

Задачи анализа металлических систем. Идентификация фазовых областей на диаграммах состояния. Упорядочение твердых растворов. Экспериментальные задачи при исследовании структурных превращений и апериодических кристаллов.

10

Электронография. Принцип и особенности метода дифракции электронов. Области применения.

11

Нейтронография. Ядерное рассеяние — принципы применения. Магнитное рассеяние, определение упорядочения магнитных моментов в структуре ферро- и антиферромагнетиков.

12

Рентгеновская дифракционная микроскопия. Анализ реальной структуры кристалла. Методы изучения совершенных кристаллов.

Общая трудоемкость дисциплины: 2 зачетные единицы.

Форма промежуточной аттестации: зачет.

Контакты

Телефон:
8(496) 52 219-82
+7 906 095 4402

Факс:
+7(496) 522 8160
8(496) 522 8160

Почтовый адрес:
ИФТТ РАН, Черноголовка, Московская обл., ул.Академика Осипьяна д.2, 142432, Россия

E-mail:
Вебмастер
Ученый секретарь

WWW:
www.issp.ac.ru