Печать

Практикум по структурному анализу

Автор программы: доцент, к. ф.-м. н., Матвеев Д.В.

Цель практики: дать студентам основные знания о современных методах анализа структуры веществ и их принципах работы, а также формирование у обучающихся практических навыков использования изучаемых методов, в том числе, освоить основные принципы установления структуры неизвестного материала (включая аморфные материалы и наноматериалы) посредством комплексного анализа его структурных особенностей.
Задачи:

Краткое содержание дисциплины:

1

Дифракционные методы исследования реальной структуры материалов.

2

Основы растровой электронной микроскопии (РЭМ).

3

Просвечивающая электронная микроскопия. Электронная микроскопия высокого разрешения.

Общая трудоемкость дисциплины: 2 зачетные единицы.

Форма промежуточной аттестации: зачет.