22.11.2017 
  


В связи с обновлением программного обеспечения сайт находится на реконструкции (некоторые страницы и сервисы могут быть недоступны)

Практикум по структурному анализу

Автор программы: доцент, к. ф.-м. н., Матвеев Д.В.

Цель практики: дать студентам основные знания о современных методах анализа структуры веществ и их принципах работы, а также формирование у обучающихся практических навыков использования изучаемых методов, в том числе, освоить основные принципы установления структуры неизвестного материала (включая аморфные материалы и наноматериалы) посредством комплексного анализа его структурных особенностей.
Задачи:

  • создание у обучающихся теоретической и практической баз для освоения различных модификаций методов исследования структуры веществ;
  • развивать навыки работы студентов с современным оборудованием;
  • познакомить студентов с примерами решения типичных задач физики при помощи методов структурного анализа и научить выбору подходящей методики при решении определенных исследовательских задач физики твердого тела и материаловедения.

Краткое содержание дисциплины:

1

Дифракционные методы исследования реальной структуры материалов.

2

Основы растровой электронной микроскопии (РЭМ).

3

Просвечивающая электронная микроскопия. Электронная микроскопия высокого разрешения.

Общая трудоемкость дисциплины: 2 зачетные единицы.

Форма промежуточной аттестации: зачет.

 

Контакты

Телефон:
8(496) 52 219-82
+7 906 095 4402

Факс:
+7(496) 522 8160
8(496) 522 8160

Почтовый адрес:
ИФТТ РАН, Черноголовка, Московская обл., ул.Академика Осипьяна д.2, 142432, Россия

E-mail:
Вебмастер
Ученый секретарь

WWW:
www.issp.ac.ru